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SEM掃描電鏡

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  • FEI/FIB掃描電鏡產(chǎn)品
    面議
    FIB200電鏡/FIB200聚焦離子束/FEI FIB/FEI SEM/FEI 聚焦離子束/FEI 掃描電鏡/美國FEI掃描電鏡/賽默飛聚焦離子束/掃描電鏡雙束系/電鏡型號：Strata 400/Helios NanoLab 400/400S/450S/600i。FI..
    06月10日
  • 杭州大型檢測機(jī)構(gòu)掃描電鏡測試SEM+EDS檢測
    面議
    掃描電鏡在生物醫(yī)學(xué)領(lǐng)域有廣泛的應(yīng)用，主要應(yīng)用于細(xì)胞或組織樣本表面超微結(jié)構(gòu)的觀察分析，例如細(xì)胞表面結(jié)構(gòu)，氣管，腸道，皮膚、納米藥物、生物醫(yī)學(xué)材料、細(xì)菌、真菌等。掃描電鏡的焦深比透射..
    10月06日
  • 江蘇掃描電鏡觀察工業(yè)分析檢測中心
    200.00元
    廣州掃描電鏡 :掃描電鏡觀察 技術(shù)參數(shù)： 基本規(guī)格 蔡司 GeminiSEM 300 熱場發(fā)射電子槍，穩(wěn)定性優(yōu)于0.2 %/h 加速電壓 0.02 - 30 kV 探針電流 3 pA - 20..
    10月06日
  • 多功能第三方檢測中心掃描電鏡
    面議
    優(yōu)爾鴻信(原富士康科技集團(tuán)華南檢測中心)成立于1996年，是一家全國性、綜合性的獨立第三方檢測服務(wù)機(jī)構(gòu)。在深圳、昆山、武漢、鄭州、煙臺、成都、重慶等全國主要城市設(shè)有專業(yè)實驗室22個，主要..
    10月06日
  • 昆山第三方檢測中心掃描電鏡分析
    面議
    優(yōu)爾鴻信(原富士康科技集團(tuán)華南檢測中心)成立于1996年，是一家全國性、綜合性的獨立第三方檢測服務(wù)機(jī)構(gòu)。在深圳、昆山、武漢、鄭州、煙臺、成都、重慶等全國主要城市設(shè)有專業(yè)實驗室22個，主要..
    10月06日
  • 多功能第三方檢測中心掃描電鏡分析
    面議
    優(yōu)爾鴻信檢測技術(shù)昆山檢測中心 SEM+EDS分析測試范圍 1.IMC檢查（IMC Inspection） 2.錫須觀察（Tin Whisker Inspection） 3.元素分析（Element Analysis） 4.金屬顆粒觀察（Observation of me..
    10月06日
  • 掃描電鏡多功能第三方檢測中心
    面議
    優(yōu)爾鴻信(原富士康科技集團(tuán)華南檢測中心)成立于1996年，是一家全國性、綜合性的獨立第三方檢測服務(wù)機(jī)構(gòu)。在深圳、昆山、武漢、鄭州、煙臺、成都、重慶等全國主要城市設(shè)有專業(yè)實驗室22個，主要..
    10月06日
  • 江蘇第三方檢測中心掃描電鏡
    面議
    SEM+EDS分析： 放大倍數(shù): 5~30萬倍 解 析 度 : 3 nm 分析元素范圍: Be(4)~U(92) 最大樣品尺寸: 200 mm 分析對象: 固體樣品,金屬、塑料和電子零件. 功能與目的： 微區(qū)成分分..
    10月06日
  • 掃描電鏡CNAS資質(zhì)第三方檢測機(jī)構(gòu)
    面議
    優(yōu)爾鴻信昆山檢測中心專業(yè)第三方檢測機(jī)構(gòu)，具備完整的檢測能力及CNAS資質(zhì)，能及時有效的提供檢測服務(wù) 包含：環(huán)境可靠性測試、機(jī)械可靠性測試、尺寸量測、材料機(jī)械性能測試、化學(xué)成分分析、清..
    10月06日
  • CNAS資質(zhì)第三方檢測機(jī)構(gòu)掃描電鏡分析
    面議
    優(yōu)爾鴻信檢測昆山檢測中心SEM+EDS分析通過CNAS認(rèn)可，可執(zhí)行的測試標(biāo)準(zhǔn)GB/T17359-2012, JY/T0584-2020,JEDEC-KESD22-A121A-2008(2014)等場掃描電鏡對樣品要求，如下： 1.樣品要盡可能干燥，若..
    10月06日
  • 掃描電鏡分析CNAS資質(zhì)第三方檢測機(jī)構(gòu)
    面議
    SEM+EDS分析： 放大倍數(shù): 5~30萬倍 解 析 度 : 3 nm 分析元素范圍: Be(4)~U(92) 最大樣品尺寸: 200 mm 分析對象: 固體樣品,金屬、塑料和電子零件. 功能與目的： 微區(qū)成分分..
    10月06日
  • 掃描電鏡分析江蘇第三方檢測中心
    面議
    SEM+EDS分析： 放大倍數(shù): 5~30萬倍 解 析 度 : 3 nm 分析元素范圍: Be(4)~U(92) 最大樣品尺寸: 200 mm 分析對象: 固體樣品,金屬、塑料和電子零件. 功能與目的： 微區(qū)成分分..
    10月06日
  • 掃描電鏡專業(yè)第三方檢測機(jī)構(gòu)-資質(zhì)齊全
    面議
    優(yōu)爾鴻信(原富士康科技集團(tuán)華南檢測中心)成立于1996年，是一家全國性、綜合性的獨立第三方檢測服務(wù)機(jī)構(gòu)。在深圳、昆山、武漢、鄭州、煙臺、成都、重慶等全國主要城市設(shè)有專業(yè)實驗室22個，主要..
    10月06日
  • 掃描電鏡分析專業(yè)第三方檢測-CANS資質(zhì)
    面議
    優(yōu)爾鴻信(原富士康科技集團(tuán)華南檢測中心)成立于1996年，是一家全國性、綜合性的獨立第三方檢測服務(wù)機(jī)構(gòu)。在深圳、昆山、武漢、鄭州、煙臺、成都、重慶等全國主要城市設(shè)有專業(yè)實驗室22個，主要..
    10月06日
  • 掃描電鏡專業(yè)第三方檢測-CANS資質(zhì)
    面議
    優(yōu)爾鴻信檢測技術(shù)昆山檢測中心 SEM+EDS分析測試范圍 1.IMC檢查（IMC Inspection） 2.錫須觀察（Tin Whisker Inspection） 3.元素分析（Element Analysis） 4.金屬顆粒觀察（Observation of me..
    10月06日
  • CNAS認(rèn)可第三方檢測機(jī)構(gòu)掃描電鏡分析
    面議
    優(yōu)爾鴻信昆山檢測中心專業(yè)第三方檢測機(jī)構(gòu)，具備完整的檢測能力及CNAS資質(zhì)，能及時有效的提供檢測服務(wù) 包含：環(huán)境可靠性測試、機(jī)械可靠性測試、尺寸量測、材料機(jī)械性能測試、化學(xué)成分分析、清..
    10月06日
  • 專業(yè)第三方檢測-CANS資質(zhì)掃描電鏡分析
    面議
    優(yōu)爾鴻信昆山檢測中心專業(yè)第三方檢測機(jī)構(gòu)，具備完整的檢測能力及CNAS資質(zhì)，能及時有效的提供檢測服務(wù) 包含：環(huán)境可靠性測試、機(jī)械可靠性測試、尺寸量測、材料機(jī)械性能測試、化學(xué)成分分析、清..
    10月06日
  • 掃描電鏡
    面議
    優(yōu)爾鴻信昆山檢測中心專業(yè)第三方檢測機(jī)構(gòu)，具備完整的檢測能力及CNAS資質(zhì)，能及時有效的提供檢測服務(wù) 包含：環(huán)境可靠性測試、機(jī)械可靠性測試、尺寸量測、材料機(jī)械性能測試、化學(xué)成分分析、清..
    10月06日
  • 掃描電鏡分析
    面議
    掃描電鏡（Scanning Electron Microscopy，SEM）是一種高分辨率的電子顯微鏡技術(shù)，可用于對形貌和表面特征進(jìn)行分析和觀察。相比于傳統(tǒng)的透射電鏡，SEM不需要樣本薄片，可以直接對樣品進(jìn)行觀察..
    10月06日
  • 第三方檢測中心掃描電鏡
    面議
    優(yōu)爾鴻信檢測技術(shù)昆山檢測中心具備掃描電鏡分析能力（SEM&EDS分析），可針對表面異物分析、IMC形貌觀察、錫須觀察、焊點失效分析等進(jìn)行分析測試。放大倍率可達(dá)30萬倍;EDS通過樣品表面激發(fā)出的..
    10月06日
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