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有害物質(zhì)測試儀天瑞XRF測試儀EDX1800B

更新時間1:2025-10-06 信息編號:2b43c2hn78998a 舉報維權(quán)
有害物質(zhì)測試儀天瑞XRF測試儀EDX1800B
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供應(yīng)商 江蘇天瑞儀器股份有限公司 店鋪
認(rèn)證
報價 面議
關(guān)鍵詞 天瑞XRF檢測儀,天瑞XRF分析儀,天瑞XRF儀器,天瑞光譜分析儀
所在地 江蘇蘇州昆山市中華園西路1888號
孫經(jīng)理
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9年

產(chǎn)品詳細(xì)介紹

江蘇天瑞儀器股份有限公司介紹

快,1秒鐘出結(jié)果
1、采用行業(yè)的速探測器技術(shù)——(SDD)分辨率低至125eV
優(yōu)勢:探測面積大(面積達(dá)25m㎡)、單位時間內(nèi)接受信息多、計數(shù)率高分辨率好
對貴金屬的探測效率更高,探測信噪比更強(qiáng),檢出限更低
2、采用行業(yè)的數(shù)字多道技術(shù)
優(yōu)勢:有效提高輸出效率,實(shí)現(xiàn)計數(shù)率,采集有效計數(shù)率超過600KCPS
3、采用大功率X光管及的準(zhǔn)直濾光系統(tǒng)
優(yōu)勢:使貴金屬的激發(fā)效率更高
4、光閘系統(tǒng)
優(yōu)勢:樣品更換無需關(guān)閉高壓,提高測試效率與測試精度

人性化的設(shè)計
更安全:X射線聯(lián)動安全裝置----光閘與聯(lián)動裝置互動;儀器外殼與高壓使能端相聯(lián)動
更快捷:多點(diǎn)測試,點(diǎn)哪測哪
預(yù)約預(yù)熱:根據(jù)設(shè)定時間,儀器可定時開始測試
預(yù)約開機(jī)預(yù)熱功能:客戶可預(yù)約儀器開機(jī)時間,同時可以儀器預(yù)熱并自動檢測、校正儀器狀態(tài);同時可以實(shí)現(xiàn)預(yù)約關(guān)機(jī),關(guān)機(jī)前可設(shè)定聲光提示

X熒光光譜儀是利用XRF技術(shù)解決國內(nèi)水泥廠、鋼鐵公司對復(fù)雜成份、多類型櫚中元素的快速、準(zhǔn)確分析。該技術(shù)的主要特征為:利用低能X光激發(fā)待測元素,對Si、S、AI、Na、Mg等輕元素有良好的激發(fā)效果,并且測試時間短,大大提高了檢測效率和工作效率; 采用UHRD探測器,具有良好的能量線性和能量分辨率,及良好的能譜特性,較高的峰背比; 采用自動穩(wěn)譜裝置,了儀器工作的一致性; 利用解譜技術(shù)使譜峰分解,使采用UHRD探測器的分析儀對Si、S、AI等輕元素的測試具有和的分析精度;采用相似自動分類技術(shù)使分類更準(zhǔn)確,有效地克服基效應(yīng)對測量帶來的影響;采用多參數(shù)的線性回歸方法,使元素間的吸收、增強(qiáng)效應(yīng)得到明顯的消除。

X熒光光譜儀具有元素快速分析的功能,它可萃取玩具中重金屬含量測試(鉛、鎘、鉻、、銻、鋇、、硒等)、包裝物料的有元素測試、EN71,測試結(jié)果度高。X熒光光譜儀的檢測結(jié)果可以和化學(xué)檢測媲美,還大大節(jié)省儀器購置成本、使用成本和檢測時間成本。目前X熒光光譜儀已成為企業(yè)倡導(dǎo)綠色生產(chǎn)過程中的檢測工具。

x熒光光譜儀樣品種類樣品狀態(tài)一般有固體塊狀樣品、粉末樣品和液體樣品等。
(1)固體塊狀樣品包括黑色金屬、有色金屬、電鍍板、硅片、塑料制品及橡膠制品等,其中金屬材料占了很大的比例。
(2)粉末樣品包括各種礦產(chǎn)品,水泥及其原材料,金屬冶煉的原材料和副產(chǎn)品如鐵礦石、煤、爐渣等;還有巖石土壤等。
(3)液體樣品油類產(chǎn)品、水質(zhì)樣品以及通過化學(xué)方法將固體轉(zhuǎn)換成的溶液等

X熒光光譜儀粉末樣品誤差主要來源:
(1) 粒度效應(yīng) 粉末樣品粒度效應(yīng)是指被測量樣品中的分析元素的熒光強(qiáng)度變化和樣品的粒度變化有關(guān)。一般來說,被分析樣品的粒度越小,熒光強(qiáng)度越高,輕元素尤甚。原子序數(shù)越小,對粒度越敏感;同一元素粒度越小,制樣穩(wěn)定性越好。一般要求粒度小于200 目。
(2) 偏析 偏析是指組分元素在樣品中分布的差異。偏析有兩種:粒間偏析:粉末顆粒A 和B 之間混合不均勻;元素偏析:元素分布對粒度分布的非勻質(zhì)性。如果在采用充分多步混合或微粉碎情況下仍不能解決,可用其它制樣手段,如熔融,溶解等。
(3)礦物效應(yīng) 由于礦物的化學(xué)結(jié)構(gòu)或微觀晶體形態(tài)不同,含量相同的同一元素在不同的礦物中,它們的熒光強(qiáng)度會有很大的差異。所謂的礦物效應(yīng)不單是針對礦物,在粉末樣品的X 熒光光譜儀分析中有著更廣泛的含義。

將X射線熒光分析(XRF)用于巖屑錄井這項技術(shù)的到之處在于:通過巖屑化學(xué)元素組合特征的分析來識別巖性,再通過巖性的組合特征分析來判斷層位,因此適合于任何鉆井條件下的巖屑錄井。
真空形成條件及高靈敏半導(dǎo)體探測器保障對巖心中的元素具有的檢出限,為錄井平臺提供更有意義的具體數(shù)據(jù)特征;更寬的元素檢出范圍滿足多種元素的同時檢測需求;同時引入了目前的4096道數(shù)字多道技術(shù),采用進(jìn)口超薄鈹窗有高激發(fā)效率的X射線管,使儀器計數(shù)率更高,穩(wěn)定性更好,適用面更廣;
優(yōu)化了光路結(jié)構(gòu)、軟硬件可靠性,真空腔體使之性能更好、更便攜;
特的抗震性設(shè)計,高保護(hù)光路設(shè)計使得該儀器通過了第三方機(jī)構(gòu)高低溫、高低頻電動振動及濕熱等使用認(rèn)證;
在現(xiàn)場測試、在線檢測以及各類地質(zhì)勘察多元素檢測中充分發(fā)揮作用。

引起樣品誤差的原因:
(1)樣品物理狀態(tài)不同,樣品的顆粒度、密度、光潔度不一樣;樣品的沾污、吸潮,液體樣品的受熱膨脹,揮發(fā)、起泡、結(jié)晶及沉淀等。
(2)樣品的組分分布不均勻 樣品組分的偏析、礦物效應(yīng)等。
(3)樣品的組成不一致 引起吸收、增強(qiáng)效應(yīng)的差異造成的誤差
(4)被測元素化學(xué)結(jié)合態(tài)的改變 樣品氧化,引起元素百分組成的改變;輕元素化學(xué)價態(tài)不同時,譜峰發(fā)生位移或峰形發(fā)生變化引起的誤差。
(5)制樣操作 在制樣過程中的稱量造成的誤差,稀釋比不一致,樣品熔融不完全,樣品粉碎混合不均勻,用于合成校準(zhǔn)或基準(zhǔn)試劑的純度不夠等。
3、樣品種類樣品狀態(tài)一般有固體塊狀樣品、粉末樣品和液體樣品等。
(1)固體塊狀樣品 包括黑色金屬、有色金屬、電鍍板、硅片、塑料制品及橡膠制品等,其中金屬材料占了很大的比例。
(2)粉末樣品 包括各種礦產(chǎn)品,水泥及其原材料,金屬冶煉的原材料和副產(chǎn)品如鐵礦石、煤、爐渣等;還有巖石土壤等。
(3)液體樣品 油類產(chǎn)品、水質(zhì)樣品以及通過化學(xué)方法將固體轉(zhuǎn)換成的溶液等。

X熒光光譜儀分析法中不同樣品有不同的制樣方法。金屬樣品如果大小形狀合適,或者經(jīng)過簡單的切割達(dá)到X 熒光光譜儀分析的要求,只需表面拋光,液體樣品可以直接分析,大氣塵埃通常收集在濾膜上直接進(jìn)行分析。而粉末樣品的制樣方法就比較復(fù)雜。這里只對常見的固體和粉末樣品的制樣方法進(jìn)行討論,液體樣品就不再討論。
1、固體樣品的主要缺點(diǎn)是,一般情況下不能采用各種添加法:如標(biāo)準(zhǔn)添加(或稀釋)法、低(或高)吸收稀釋法、內(nèi)標(biāo)法等。若所有樣品中已經(jīng)含有適當(dāng)?shù)?、一定濃度的?nèi)標(biāo)元素,則上述的后兩種方法還是可用的。另外,也不能進(jìn)行化學(xué)濃縮和分離。表面結(jié)構(gòu)和成分有時也難取得一致。可能弄不到現(xiàn)成的標(biāo)樣,而人工合成又很困難。
2、制樣方法,固體樣品可用未加工的或經(jīng)加工的大塊材料或原材料(如生鐵,鋼錠等)制取。另外,也可把熔爐的熔融物直接澆鑄到小模子里。為防止緩慢冷卻時發(fā)生的成分偏析,好用激冷。經(jīng)拋光的原材料,或經(jīng)砂輪磨打的表面,一般是令人滿意的,但對后者仍需進(jìn)一步拋光,以減少表面粗糙度,并除去加工損傷的和沒有代表性的表面層。拋光的方法有許多種,包括:
(1)行帶式磨削,然后用拋光器拋光,其砂紙粒度依次由粗變細(xì)
(2)用車床、銑床或刨床進(jìn)行加工。對于薄板和箔,仔細(xì)操作,以表面不出現(xiàn)翹曲、和折痕。特別要注意不能照射時間太長,以免受熱變形。薄板和箔襯上一塊剛性支撐物,或把它們粘在一起。
制備固體樣品時要注意:
(1) 樣品的分析面不能有氣孔,析出物和多孔質(zhì)現(xiàn)象。
(2) 防止偏析。造成偏析的因素:合金的組成和密度;鑄模的材料、形狀和厚度;合金熔化溫度、澆鑄溫度和被澆鑄樣品的冷卻速度等。

所屬分類:光學(xué)儀器/光譜儀

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