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200.00元廣州掃描電鏡 :掃描電鏡觀察 技術(shù)參數(shù)： 基本規(guī)格 蔡司 GeminiSEM 300 熱場(chǎng)發(fā)射電子槍?zhuān)€(wěn)定性?xún)?yōu)于0.2 %/h 加速電壓 0.02 - 30 kV 探針電流 3 pA - 20..10月02日 -
中國(guó)掃描電鏡行業(yè)深度調(diào)研及發(fā)展前景研究報(bào)告2024-2030年【報(bào)告編號(hào)】55875【出版日期】2024年07月【交付方式】電子版或特快專(zhuān)遞【報(bào)告價(jià)格】【紙質(zhì)版】:6500 【電子版】:6800 【合訂版】:700..10月01日
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SEM+EDS分析： 放大倍數(shù): 5~30萬(wàn)倍 解 析 度 : 3 nm 分析元素范圍: Be(4)~U(92) 最大樣品尺寸: 200 mm 分析對(duì)象: 固體樣品,金屬、塑料和電子零件. 功能與目的： 微區(qū)成分分..10月02日
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優(yōu)爾鴻信昆山檢測(cè)中心專(zhuān)業(yè)第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)，具備完整的檢測(cè)能力及CNAS資質(zhì)，能及時(shí)有效的提供檢測(cè)服務(wù) 包含：環(huán)境可靠性測(cè)試、機(jī)械可靠性測(cè)試、尺寸量測(cè)、材料機(jī)械性能測(cè)試、化學(xué)成分分析、清..10月02日
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優(yōu)爾鴻信檢測(cè)昆山檢測(cè)中心SEM+EDS分析通過(guò)CNAS認(rèn)可，可執(zhí)行的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)GB/T17359-2012, JY/T0584-2020,JEDEC-KESD22-A121A-2008(2014)等場(chǎng)掃描電鏡對(duì)樣品要求，如下： 1.樣品要盡可能干燥，若..10月02日
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SEM+EDS分析： 放大倍數(shù): 5~30萬(wàn)倍 解 析 度 : 3 nm 分析元素范圍: Be(4)~U(92) 最大樣品尺寸: 200 mm 分析對(duì)象: 固體樣品,金屬、塑料和電子零件. 功能與目的： 微區(qū)成分分..10月02日
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SEM+EDS分析： 放大倍數(shù): 5~30萬(wàn)倍 解 析 度 : 3 nm 分析元素范圍: Be(4)~U(92) 最大樣品尺寸: 200 mm 分析對(duì)象: 固體樣品,金屬、塑料和電子零件. 功能與目的： 微區(qū)成分分..10月02日
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優(yōu)爾鴻信(原富士康科技集團(tuán)華南檢測(cè)中心)成立于1996年，是一家全國(guó)性、綜合性的獨(dú)立第三方檢測(cè)服務(wù)機(jī)構(gòu)。在深圳、昆山、武漢、鄭州、煙臺(tái)、成都、重慶等全國(guó)主要城市設(shè)有專(zhuān)業(yè)實(shí)驗(yàn)室22個(gè)，主要..10月02日
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優(yōu)爾鴻信昆山檢測(cè)中心專(zhuān)業(yè)第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)，具備完整的檢測(cè)能力及CNAS資質(zhì)，能及時(shí)有效的提供檢測(cè)服務(wù) 包含：環(huán)境可靠性測(cè)試、機(jī)械可靠性測(cè)試、尺寸量測(cè)、材料機(jī)械性能測(cè)試、化學(xué)成分分析、清..10月02日
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優(yōu)爾鴻信(原富士康科技集團(tuán)華南檢測(cè)中心)成立于1996年，是一家全國(guó)性、綜合性的獨(dú)立第三方檢測(cè)服務(wù)機(jī)構(gòu)。在深圳、昆山、武漢、鄭州、煙臺(tái)、成都、重慶等全國(guó)主要城市設(shè)有專(zhuān)業(yè)實(shí)驗(yàn)室22個(gè)，主要..10月02日
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優(yōu)爾鴻信檢測(cè)技術(shù)昆山檢測(cè)中心 SEM+EDS分析測(cè)試范圍 1.IMC檢查（IMC Inspection） 2.錫須觀察（Tin Whisker Inspection） 3.元素分析（Element Analysis） 4.金屬顆粒觀察（Observation of me..10月02日
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優(yōu)爾鴻信昆山檢測(cè)中心專(zhuān)業(yè)第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)，具備完整的檢測(cè)能力及CNAS資質(zhì)，能及時(shí)有效的提供檢測(cè)服務(wù) 包含：環(huán)境可靠性測(cè)試、機(jī)械可靠性測(cè)試、尺寸量測(cè)、材料機(jī)械性能測(cè)試、化學(xué)成分分析、清..10月02日
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掃描電鏡（Scanning Electron Microscopy，SEM）是一種高分辨率的電子顯微鏡技術(shù)，可用于對(duì)形貌和表面特征進(jìn)行分析和觀察。相比于傳統(tǒng)的透射電鏡，SEM不需要樣本薄片，可以直接對(duì)樣品進(jìn)行觀察..10月02日
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優(yōu)爾鴻信昆山檢測(cè)中心專(zhuān)業(yè)第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)，具備完整的檢測(cè)能力及CNAS資質(zhì)，能及時(shí)有效的提供檢測(cè)服務(wù) 包含：環(huán)境可靠性測(cè)試、機(jī)械可靠性測(cè)試、尺寸量測(cè)、材料機(jī)械性能測(cè)試、化學(xué)成分分析、清..10月02日
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面議優(yōu)爾鴻信昆山檢測(cè)中心專(zhuān)業(yè)第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)，具備完整的檢測(cè)能力及CNAS資質(zhì)，能及時(shí)有效的提供檢測(cè)服務(wù) 包含：環(huán)境可靠性測(cè)試、機(jī)械可靠性測(cè)試、尺寸量測(cè)、材料機(jī)械性能測(cè)試、化學(xué)成分分析、清..10月02日
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面議掃描電鏡（Scanning Electron Microscopy，SEM）是一種高分辨率的電子顯微鏡技術(shù)，可用于對(duì)形貌和表面特征進(jìn)行分析和觀察。相比于傳統(tǒng)的透射電鏡，SEM不需要樣本薄片，可以直接對(duì)樣品進(jìn)行觀察..10月02日
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優(yōu)爾鴻信檢測(cè)技術(shù)昆山檢測(cè)中心具備掃描電鏡分析能力（SEM&EDS分析），可針對(duì)表面異物分析、IMC形貌觀察、錫須觀察、焊點(diǎn)失效分析等進(jìn)行分析測(cè)試。放大倍率可達(dá)30萬(wàn)倍;EDS通過(guò)樣品表面激發(fā)出的..10月02日
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SEM+EDS分析： 放大倍數(shù): 5~30萬(wàn)倍 解 析 度 : 3 nm 分析元素范圍: Be(4)~U(92) 最大樣品尺寸: 200 mm 分析對(duì)象: 固體樣品,金屬、塑料和電子零件. 功能與目的： 微區(qū)成分分..10月02日
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FIB200電鏡/FIB800聚焦離子束/FEI FIB/FEI PFIB/FEI SEM/FEI 聚焦離子束/FEI 掃描電鏡/FEI掃描電鏡/賽默飛聚焦離子束/掃描電鏡雙束系/電鏡型號(hào)：Strata 400/Helios NanoLab 400/400S/450S/600..09月29日
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TESCAN--場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡 MIRA 新一代的MIRA場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡給用戶帶來(lái)了新的技術(shù)優(yōu)點(diǎn)（如改進(jìn)的電子設(shè)備使成像過(guò)程更快，快速掃描系統(tǒng)包括了動(dòng)態(tài)與靜態(tài)圖像扭曲補(bǔ)償，有內(nèi)置的編程軟件等）..09月28日
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