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TEMCELL一般只找方值,使測(cè)試結(jié)果對(duì)手機(jī)擺放的位置比較敏感。另外,還有一種測(cè)試工具較箱,有的設(shè)計(jì)公司用來對(duì)手機(jī)天線進(jìn)行有源測(cè)試,這種方法很不可行。一方面由于測(cè)試距離太近,另一方面由于沒有足夠的吸波材料,外部干擾對(duì)天線的測(cè)試影響比較大,這樣導(dǎo)致測(cè)試結(jié)果對(duì)位置比較敏感,稍微改變一下位置測(cè)試結(jié)果就有比較大的改變,因此這種測(cè)試方法對(duì)手機(jī)天線的性能沒有多少的參考意義。用耦合測(cè)試板測(cè)試天線性能在生產(chǎn)過程中為了產(chǎn)品的生產(chǎn)品質(zhì),往往要進(jìn)行天線的耦合測(cè)試。