PCT試驗箱使用說明
1.使用PCT老化試驗箱前請詳讀操作保養(yǎng)手冊。
2.建議使用蒸餾水或R.O.水以保護鍋體使用安全。
3.使用PCT前請確認關閉手動排氣閥門。
4.工作完成后如壓力指示器未回到0kg/cm2。開門前請打開手動排氣閥排除內鍋剩余壓力，直到內鍋壓力回到0kg/cm2。
5.工作完成后將測試物品留置在鍋內時間過長，將可能發(fā)生鍋門無法開啟的現(xiàn)象，那是因為冷熱空氣收縮造成的壓差所導致，處理方式很簡單，只要打開手動排氣閥排除內鍋氣體，鍋門就可打開。

PCT老化箱（又名PCT高壓加速老化試驗機）主要是測試半導體封裝之濕氣能力，待測產品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體，常見之故障方式為主動金屬化區(qū)域腐蝕造成之斷路，或封裝體引腳間因污染造成短路等。

PCT老化箱采用新優(yōu)化設計,美觀大方，做工精細。
采用大容量水箱,試驗時間長,不中斷。
采用日本“SHIMAX”智能溫控器，具有精度高，控制穩(wěn)定特點（依客戶需要也可選擇采用觸摸屏為4.3寸真彩屏，USB曲線數(shù)據下載功能，和通訊功能）。

廣泛應用于線路板,多層線路板,IC,LCD,磁鐵等產品之密封性能的檢測,測試其制品的耐壓性,氣密性。加速老化壽命試驗的目的是提高環(huán)境應力(如：溫度)與工作應力(施加給產品的電壓、負荷等)，加快試驗過程，縮短產品或系統(tǒng)的壽命試驗時間。

試驗箱采用熒光紫外燈為光源，通過模擬自然陽光中的紫外輻射和冷凝，對材料進行加速耐候性試驗，以獲得材料耐候性的結果。可模擬自然氣候中的紫外、雨淋、高溫、高濕、凝露、黑暗等環(huán)境條件，通過重現(xiàn)這些條件，合并成一個循環(huán)，并讓它自動執(zhí)行完成循環(huán)次數(shù)。ZN-P

采用能模擬全陽光光譜的氙弧燈來再現(xiàn)不同環(huán)境下存在的破壞性光波，可以為科研、產品開發(fā)和質量控制提供相應的環(huán)境模擬和加速試驗。

老化試驗箱有大型觀測視窗附照明燈保持箱內明亮，且利用鋼化玻璃，隨時清晰的觀測箱內狀況。
箱體保溫采用超細玻璃纖維保溫棉，可避免不必要的能量損失。箱體左側配一直50mm的測試孔，可供外接測試電源線或信號線使用。換氣的時間和次數(shù)可任意設置。
試驗架二層，可以自由調節(jié)高度

老化試驗箱采用國外的加熱氣流方法，解決了原轉盤式的溫度不均勻先天缺陷，同時大大提高了試樣放置的安全性，有效空間利用率是原轉盤式的200%以上，適用于電子元件，橡膠零部件等材料在高溫下的老化適應性試驗。新型老化試驗箱采用LTDE可編程控制系統(tǒng)，在額定溫度范圍內可按工作需要進行程序升溫-恒溫-待機，操作人員設置好程序后，儀器即按程序工作，完畢后自動關機（待機）。

循環(huán)腐蝕試驗以一種重復的循環(huán)周期將樣板暴露在一系列不同的環(huán)境條件之中，Q-FOG腐蝕試驗箱循環(huán)式腐蝕試驗比傳統(tǒng)的鹽霧試驗對材料的侵蝕作用更為接近自然