ISTA 2A試驗(yàn)程序是用于單個(gè)包裝件部分模擬性能的試驗(yàn)程序。
　　· 可用于評(píng)估包裝件的性能;
　　· 可用于比較不同的包裝及產(chǎn)品設(shè)計(jì)的性能;
　　· 可以評(píng)估國(guó)際運(yùn)輸包裝件;
　　· 包裝和產(chǎn)品應(yīng)作為一個(gè)整體，不能單考核;
　　· 可能不包括某些運(yùn)輸條件,諸如潮濕,氣壓或非正常搬運(yùn)作業(yè)。
　　根據(jù)不同的條件或滿足不同的目的，可以選用其他ISTA試驗(yàn)程序。
　　具體建議：
　　· 若測(cè)試小件快遞運(yùn)輸包裝件，應(yīng)考慮使用ISTA綜合模擬性能試驗(yàn)程序ISTA 3A。

阻隔性能是指包裝材料對(duì)氣體、液體等滲透物的阻隔作用。阻隔性能測(cè)試包括對(duì)氣體（氧氣、氮?dú)?、二氧化碳等）與水蒸氣透過性能測(cè)試。阻隔性能是影響產(chǎn)品在貨架期內(nèi)質(zhì)量的重要因素，也是分析貨架期的重要參考，通過該項(xiàng)檢測(cè)能解決由于對(duì)氧氣或水蒸氣敏感而產(chǎn)生的氧化變質(zhì)、受潮霉變等問題。

沖擊試驗(yàn)的目的在于了解其結(jié)構(gòu)弱點(diǎn)以及功能退化情況，有助于了解產(chǎn)品的結(jié)構(gòu)強(qiáng)度以及外觀抗沖擊，跌落等特性。有效地評(píng)估產(chǎn)品的可靠性和監(jiān)控生產(chǎn)線產(chǎn)品的一致性。
沖擊試驗(yàn)主要用來確定電工電子元器件、設(shè)備及其它產(chǎn)品在使用和運(yùn)輸過程中承受非多次重復(fù)的機(jī)械沖擊的能力，以評(píng)價(jià)其對(duì)沖擊環(huán)境的適應(yīng)性和結(jié)構(gòu)完好性，其次是用于微電子器件內(nèi)強(qiáng)度試驗(yàn)。沖擊試驗(yàn)還可以作為產(chǎn)品滿意設(shè)計(jì)和質(zhì)量控制手段。