產(chǎn)品詳情：
二手TR5001E ICT在線測(cè)試儀（二手德律TR-518FE）


產(chǎn)品說(shuō)明
ICT在線測(cè)試儀是DL科技繼成功推出TR518之后，運(yùn)用更之零組件及軟體技術(shù)所開(kāi)發(fā)之新一代機(jī)種。其主要特性在于測(cè)試 速度較傳統(tǒng)ICT快一倍以上。 此外，更具有可程式化開(kāi)短路學(xué)習(xí)模式設(shè)定，滿足各種不同待測(cè)物之測(cè)試特性。對(duì)于高針點(diǎn)的產(chǎn)品或大批量之制程，無(wú)疑是一臺(tái)抵兩臺(tái)的選擇，無(wú)論在設(shè)備本身或治具投資上均可因此而大大降低成本。
產(chǎn)品特色
電腦自動(dòng)學(xué)習(xí)并自動(dòng)產(chǎn)生，開(kāi)/短路、Pin Information及IC保護(hù)二極體之測(cè)試程式　
可網(wǎng)路連線，并結(jié)合資料庫(kù)管理及測(cè)試站監(jiān)控程式
Board View功能可即時(shí)顯示不良元件、針點(diǎn)之位置，方便檢修
大型主機(jī)設(shè)計(jì)，高密度SwitchingBoard，高可達(dá)3584測(cè)試點(diǎn)
應(yīng)用IC Clamping Diode技術(shù)，可輔助檢測(cè) BGA 開(kāi)路空焊問(wèn)題

TR5001E測(cè)試儀

二手TR5001E搭配兩段式壓床將可降低治具成本，此ICT為PCBAs測(cè)試之可擴(kuò)充平臺(tái)。TR5001E可以依客戶的測(cè)試需求，提供經(jīng)濟(jì)的測(cè)試解決方案，并且可完全滿足大多數(shù)客戶之測(cè)試要求。TR5001E整合MDA和可選擇性的ICT及Functional測(cè)試功能于同一平臺(tái),可以精簡(jiǎn)人力，縮短測(cè)試時(shí)間并提高產(chǎn)能。

二手ICT TR5001E特點(diǎn)
. 模組化升級(jí)選項(xiàng)，可將MDA設(shè)備升級(jí)至ICT與功能測(cè)試系統(tǒng)
. 高測(cè)試覆蓋率之解決方案
. 少量測(cè)點(diǎn)之解決方案與PXI模組功能測(cè)試擴(kuò)充
. 人性化接口搭配快速又簡(jiǎn)單的程序發(fā)展

工作電壓：220V
配置：標(biāo)配（320點(diǎn)）
成色：二手九成新
JET-300在線測(cè)試機(jī)（IN CIRCUIT TESTER）是經(jīng)由量測(cè)電路板上所有零件，包括電阻、電容、電感、二極管、晶體管、FET、SCR、LED 和IC等，檢測(cè)出電路板產(chǎn)品的各種缺點(diǎn)諸如：線路短路、斷路、缺件、錯(cuò)件、零件不良或裝配不良等，并明確地指出缺點(diǎn)的所在位置，幫助使用者確保產(chǎn)品的品質(zhì)，并提高不良品檢修效率。它還率先使用可用數(shù)億次開(kāi)關(guān)的磁簧式繼電器（REED RELAY），是當(dāng)今測(cè)試涵蓋率*高，測(cè)試*穩(wěn)定，使用*方便，提供資料*的在線測(cè)試機(jī)。
系統(tǒng)性能
JET-300在線測(cè)試機(jī)(IN CIRCUIT TESTER)是經(jīng)由量測(cè)電路板上所有零件,包括電阻、電容、電感、二極體、電晶體、FET、SCR、LED 和IC等, 檢測(cè)出電路板產(chǎn)品的各種缺點(diǎn)諸如 : 線路短路、斷路、缺件、錯(cuò)件、零件不良或裝配不良等, 并明確地指出缺點(diǎn)的所在位置, 幫助使用者確保產(chǎn)品的品質(zhì), 并提高不良品檢修效率. 它還率先使用可用數(shù)億次開(kāi)關(guān)的磁簧式繼電器(REED RELAY), 是當(dāng)今測(cè)試涵蓋率**, 測(cè)試穩(wěn)定, 使用方便, 提供資料的在線測(cè)試機(jī).

以下是JET-300的產(chǎn)品特性
硬體規(guī)格
REED RELAY的掃描板

JET300的掃描板採(cǎi)用了可耐用二億次的REED RELAY，解決了ICT 掃描板容易損壞的問(wèn)題, 由于REED RELAY 的應(yīng)用，使JET-300在性能上大有改善。諸如：
1.Zener diode 測(cè)試電壓可達(dá)50v，所有測(cè)試點(diǎn)皆可使用。
2.小電容和小電感量測(cè)較準(zhǔn)確和穩(wěn)定，較不受溫度的影響。
3.電容極性的可偵測(cè)率較用CMOS RELAY時(shí)大為提高。
4.可耐高壓又有殘存電壓偵測(cè)功能，掃描板受到充分的保護(hù)。
5.配置功能測(cè)試的可行性較高。