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X熒光光譜儀化鎳層測厚儀光譜儀

更新時間:2025-10-08 [舉報]
江蘇天瑞儀器股份有限公司介紹

鍍層厚度的測量方法主要有:楔切法,光截法,電解法,厚度差測量法,稱重法,X射線熒光法,β射線反向散射法,電容法、磁性測量法及渦流測量法等等。這些方法中種是有損檢測,測量手段繁瑣,速度慢,多適用于抽樣檢驗。

隨著技術的日益進步,特別是近年來引入微機技術后,采用X射線鍍層測厚儀 向微型、智能、多功能、、實用化的方向進了一步。它適用范圍廣,量程寬、操作簡便且,是工業(yè)和科研使用廣泛的測厚儀器。

儀器配置
01 立的X/Y/Z軸控制系統(tǒng)
02 微焦斑X光管
03 可變高壓電源
04 防撞板外加防撞激光保護檢測器對儀器進行雙重安全保護
05 Fast-SDD探測器
06 雙激光定位裝置
07 標配可自動切換的準直孔和濾光片

標簽:光譜儀天瑞光譜儀
江蘇天瑞儀器股份有限公司
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