現(xiàn)金求購(gòu)SMT測(cè)試設(shè)備和備件：
ICT在線測(cè)試儀：德律TRI518FE、TRI518FR、TRI518II、TRI5001T
ATE功能測(cè)試儀：安捷倫Agilnt3070 Series3、Agilent3070 Series5
泰瑞達(dá)Teradyne TS124LH、Teradyne TS128LH
Teradyne Spectrum8852、8855、8951
PCBA飛針測(cè)試儀：TAKAYA7400、8400、9400、9411
ICT測(cè)試板卡：德律518系列DC板、AC板、TCB板、HP TESTJET板、開關(guān)板
德律5001系列ATM板、DTM板、SMB板、Hybrid Pin car
ATE測(cè)試板卡: 安捷倫agilent3070系列
XTP Control card (E9900-66501)
ASRU N Card (N1807-66550)
Hybrid DD pin car (E4000-66550)
泰瑞達(dá)Teradynt TS124/128系列 PIN car 、 PIO car、SYSTEM Controoller
9004-0387 Ultra 124L
9004-0386 Ultra 128L
Ultra-2 128 pin 026-001-30
Ultra-2 256 pin 026-101-90

安捷倫Agilent3070板卡 XTP Control card (E9900-66501) ASRU N Card (N1807-66550) Hybrid DD pin car (E4000-66550) 泰瑞達(dá)Teradynt TS124/128系列 PIN car PIO car、SYSTEM Controolle.
In—Circuit—Tester即自動(dòng)在線測(cè)試儀，是現(xiàn)代電子企業(yè)的PCBA(Printed- Circuit Board Assembly，印刷電路板組件）生產(chǎn)的測(cè)試設(shè)備，ICT使用范圍廣，測(cè)量準(zhǔn)確性高，對(duì)檢測(cè)出的問(wèn)題指示明確，即使電子技術(shù)水準(zhǔn)一般的工人處理有問(wèn)題的PCBA也非常容易。使用ICT能地提高生產(chǎn)效率，降低生產(chǎn)成本。 2． ICT Test 主要是*測(cè)試探針接觸PCB layout出來(lái)的測(cè)試點(diǎn)來(lái)檢測(cè)PCBA的線路開路、短路、所有零件的焊接情況,可分為開路測(cè)試、短路測(cè)試、電阻測(cè)試、電容測(cè)試、二極管測(cè)試、三極管測(cè)試、場(chǎng)效應(yīng)管測(cè)試、IC管腳測(cè)試(testjet` connect check)等其它通用和特殊元器件的漏裝、錯(cuò)裝、參數(shù)值偏差、焊點(diǎn)連焊、線路板開短路等故障，并將故障是哪個(gè)組件或開短路位于哪個(gè)點(diǎn)準(zhǔn)確告訴用戶。(對(duì)組件的焊接測(cè)試有較高的識(shí)別能力)

安捷倫：agilent3070 、i1000 、i1000D 泰瑞達(dá)：Teradyne TestStation LH 、TestStation LX TAKAYA 測(cè)試飛針：ATP-9401、ATP-7400、ATP-1400c..
完善的自檢功能，保障工作前良好狀態(tài)
探針接觸不良檢測(cè)并示值
數(shù)據(jù)自動(dòng)存盤備份，保障數(shù)據(jù)無(wú)丟失
可測(cè)IC（集成電路）插錯(cuò)、插反，管腳開路等故障
自動(dòng)消除分布電容、接觸電阻
數(shù)字、圖表、曲線等豐富的統(tǒng)計(jì)功能，提供改進(jìn)工藝和質(zhì)量管理的 數(shù)據(jù)
全自動(dòng)放電功能 靈敏的電壓感應(yīng)技術(shù)，可測(cè)IC引腳漏焊開路、接插件、小電容極性
三極管β測(cè)試等技術(shù)的使用，可對(duì)元器件進(jìn)行一致性檢測(cè)
的測(cè)試覆蓋率和分辨率，可測(cè)光電耦合器、電位器、接插件、晶振等器件
波形顯示的配合調(diào)程，測(cè)量值更加合理

安捷倫ICT更高的測(cè)試效率――硅釘測(cè)試/邊界掃描速度加快 40% 以上，在測(cè)試大部分 PCBA 時(shí)總體速度加快 6% 以上
向后兼容性盡量縮短安裝所需要的停機(jī)時(shí)間
泰瑞達(dá)系統(tǒng)整合DC、AC、Digital I/O等，信號(hào)更穩(wěn)定；
開機(jī)系統(tǒng)初始化，測(cè)試精度、穩(wěn)定度
采用信號(hào)全數(shù)字濾波處理，測(cè)試更方便
自我偵測(cè)及輸出報(bào)告 快速測(cè)試，滿足各種線體需要
分組塊測(cè)試模式，成倍提高工作效率，節(jié)約投資
采用四針六線測(cè)試技術(shù)，排除引線電阻及探針接觸電阻使微電阻測(cè)試穩(wěn)定
電容極性測(cè)試技術(shù)，可測(cè)試電容極性
多管腳器件測(cè)量方式，專測(cè)多管腳器件
每步高達(dá)5針隔離，對(duì)元器件隔離測(cè)試
8U結(jié)構(gòu)，輕巧穩(wěn)固，適應(yīng)需求
完善的自檢功能，保障工作前良好狀態(tài)
探針接觸不良檢測(cè)并示值
數(shù)據(jù)自動(dòng)存盤備份，保障數(shù)據(jù)無(wú)丟失
可測(cè)IC（集成電路）插錯(cuò)、插反，管腳開路等故障
自動(dòng)消除分布電容、接觸電阻
數(shù)字、圖表、曲線等豐富的統(tǒng)計(jì)功能，提供改進(jìn)工藝和質(zhì)量管理的 數(shù)據(jù)
全自動(dòng)放電功能 靈敏的電壓感應(yīng)技術(shù)，可測(cè)IC引腳漏焊開路、接插件、小電容極性
三極管β測(cè)試等技術(shù)的使用，可對(duì)元器件進(jìn)行一致性檢測(cè)

的在線測(cè)試儀實(shí)測(cè)證明電解電容極性可測(cè)率高達(dá)100％真正功能價(jià)格比的在線測(cè)試儀功能、品質(zhì)的測(cè)試技術(shù)● 的電解電容極性測(cè)試技術(shù)可測(cè)率高達(dá)100％?！?開短路及IC保護(hù)二極體之測(cè)試程式自動(dòng)學(xué)習(xí)生成?！?電腦自動(dòng)隔離點(diǎn)選擇功能，可達(dá)10個(gè)點(diǎn)?！?多連板程式自動(dòng)生成功能?！?CMOS+RELAY結(jié)合的開關(guān)板設(shè)計(jì)，使測(cè)試既快又穩(wěn)定● R.L.C相位分離技術(shù)● 雜散電容OFFSET功能● 系統(tǒng)自我診斷功能?！?完整的統(tǒng)計(jì)報(bào)表功能，資料可自動(dòng)存儲(chǔ)，不因斷電而丟失數(shù)據(jù)?！?對(duì)小電阻使用特殊四線式測(cè)試模式，可排除探針與電路板之間不穩(wěn)定接觸電阻?！?應(yīng)用IC Clamping Diode特性，檢測(cè)IC腳位故障及焊接不良?！?體積小，重量輕，使用靈活，符合高科科技產(chǎn)品輕，薄，短，小的要求
這些特長(zhǎng)為尋求更好測(cè)試覆蓋而不增加測(cè)試成本的客戶提供了機(jī)會(huì)。
i1000D包括標(biāo)準(zhǔn)的內(nèi)建邊界掃描測(cè)試能力和具有安捷倫新獲獎(jiǎng)的Cover-Extend Technology的VTEP v2.0加電無(wú)矢量測(cè)試套件。

為向用戶提供更多 ICT 能力，Keysight 還給Agilent3070配備了從標(biāo)準(zhǔn)邊界掃描和連
接測(cè)試到互聯(lián)測(cè)試的全部邊界掃描能力。這些能力有助于滿足制造商對(duì)可邊界
掃描器件的需要，以及制造商能適應(yīng)未來(lái)對(duì) Intel 基周邊控制中心和處理
器增加的需求。
長(zhǎng)線 MDA 壓著夾具不適合用于數(shù)字
測(cè)試，這一觀點(diǎn)是對(duì)還是錯(cuò)?
雖然一般認(rèn)為這是對(duì)的，但 Medalist
Agilent3070 iDEAL 證明這是錯(cuò)的。
Medalis Agilent070 iDEAL 用傳統(tǒng) MDA 型
長(zhǎng)線壓著夾具執(zhí)行數(shù)字測(cè)試。邊界掃
描測(cè)試，串行編程，基于庫(kù)的測(cè)試
都能無(wú)毛刺地運(yùn)行。使用 MDA 型夾
具，用戶現(xiàn)在就有了簡(jiǎn)單、和低
運(yùn)行成本的測(cè)試解決方案