Zhyuan GDS-5B感應(yīng)式32.768KHz晶振測試儀是專為鐘表、可穿戴設(shè)備及低功耗IoT模塊設(shè)計的革命性測試設(shè)備,采用非接觸式電磁感應(yīng)技術(shù),可對密封封裝(如SMD 2016、1610)的32.768KHz晶振進(jìn)行無損檢測。其測試精度達(dá)**±0.5ppm**,支持頻率、等效電阻(ESR)、負(fù)載電容等核心參數(shù)測量,兼容RoHS與JEITA標(biāo)準(zhǔn),被譽(yù)為“微型晶振質(zhì)檢的隱形”。
非接觸式無損檢測
創(chuàng)新采用近場電磁耦合技術(shù),無需物理接觸晶振引腳即可完成測試,避免傳統(tǒng)探針損傷微型封裝的風(fēng)險,良品率提升30%。
針對真空密封晶振(如手表用音叉晶體)設(shè)計自適應(yīng)屏蔽算法,抗干擾能力達(dá)60dB,確保數(shù)據(jù)可靠性。
速批量測試
搭載“多探頭陣列”技術(shù)(選配),可同時檢測8片晶振,單次測試周期≤0.5秒,適用于TWS耳機(jī)、智能手表產(chǎn)線的全檢需求。
內(nèi)置AI缺陷分類模型,自動識別頻偏、ESR超標(biāo)、起振不良等6類缺陷,直通率(FPY)提升25%。
智能化功耗管理
支持晶振驅(qū)動電平(DL)動態(tài)調(diào)整(0.1μW~100μW),模擬IoT設(shè)備的低功耗工作狀態(tài),捕捉休眠喚醒時的頻率漂移。
7英寸高清觸控屏實時顯示時域波形與頻譜圖,一鍵導(dǎo)出CPK分析報告,助力工藝優(yōu)化。
項目 | 參數(shù) |
---|---|
測試頻率 | 32.768KHz±200ppm |
頻率精度 | ±0.5ppm(恒溫模式) |
ESR測量范圍 | 10kΩ~100kΩ |
測試距離 | 0.1mm~2mm(非接觸) |
功耗模擬 | 0.1μW~100μW可調(diào) |
數(shù)據(jù)接口 | USB 2.0/藍(lán)牙4.2 |
鐘表制造:機(jī)械表機(jī)芯石英振蕩器的封裝后終檢。
可穿戴設(shè)備:智能手環(huán)/手表晶振的快速老化測試。
IoT模塊:NB-IoT模組低功耗晶振的驅(qū)動電平優(yōu)化。
汽車電子:車載RTC模塊晶振的抗干擾性能驗證。
技術(shù)革命:全球非接觸式32.768KHz測試儀,解決微型晶振開蓋檢測難題,降低企業(yè)返修成本。
靈活擴(kuò)展:可選配溫濕度測試艙(-20℃~+85℃),滿足車規(guī)級AEC-Q200驗證需求。
生態(tài)兼容:支持與Keysight 53230A、RIGOL DG800等設(shè)備組網(wǎng),構(gòu)建自動化測試產(chǎn)線。
Zhyuan GDS-5B以**“無形之手,度量”為核心理念,通過無損檢測與智能化分析**,為微型晶振制造提供質(zhì)檢方案。無論是提升鐘表走時精度,還是保障IoT設(shè)備十年續(xù)航,GDS-5B始終是您品質(zhì)攻堅的戰(zhàn)略伙伴。