AF-HK100環(huán)保數采儀實驗
GB/T 17626.2靜電放電抗擾性試驗3 級;
GB/T 17626.4電快速瞬變脈沖群抗擾性試驗3 級;
GB/T 17626.5沖擊(浪涌)抗擾性試驗4 級;
環(huán)保紙護角讓生活更美好:紙護角是多張牛皮紙復貼后,經護角機定型壓制而成,主要有L形和U形。用于貨品堆碼后,可加強包裝物邊緣支撐力并保護其整體包裝強度,屬于綠色環(huán)保包裝材料,可以代替木材回收再利用。 全球刮起的低碳環(huán)保風暴已經波及到了包裝領域,提出了低碳包裝的理念,低碳包裝主要內容有包裝輕量化、生產清潔化、制品綠色化、節(jié)能減排和以紙代木等以紙代木是低碳包裝的核心。廢紙循環(huán)利用,不但減少木材用量,少砍伐林木,保護生態(tài)環(huán)境,還節(jié)能節(jié)水、減排。
據計算,利用廢紙生產1噸紙可節(jié)約5立方米木材、60立方米水、300千瓦時,紙護角作為護邊、護角、護頂、護底的防護包裝新材料,開辟了“無容器包裝”新途徑,各種物品,凡只需護其邊角,不必整體包容的商品,大受其益,更加節(jié)能環(huán)保。山東魯達包裝有限公司生產各種規(guī)格紙護角、紙卡板、紙芯.等紙包裝材料。所有產品材料均符合ROHS標準,并且獲得SGS檢測報告。
紙護角優(yōu)勢分析:特點1.環(huán)保:采用溶水膠作為粘合劑的紙護角很容易再回收,是一種比較理想的環(huán)保產品。2.可印刷:顧客的名稱、標志和廣告可在生產過程中方便地印刷在紙護角顯著的位置。3.自動粘合:紙護角有自動粘合的特點,可以方便的固定在包裝邊緣上,從而簡化包裝程序。山東魯達包裝紙品有限公司主要經營:環(huán)保包裝紙護角,U型紙護角,折彎紙護角,防水紙護角,白印刷紙護角等包裝制品.已獲得中國質量認證中心ISO9001:2000版質量體系認證. 魯達秉承“顧客至上,銳意進取”的經營理念,堅持“客戶”的原則為廣大客戶提供的服務。本廠生產的紙護角硬度好,價格優(yōu)惠,產品等國家和地區(qū),受到廣大用戶的肯定與好評.無論電子,五金,汽車,電器,我們都能為你設計生產出經濟實用的包裝產品。家電紙護角主要是起到保護作用,安全.經濟,實用。
XRF分析儀是檢測ROHS鹵素鍍層厚度含量的儀器,采用新型的半導體SDD探測器,的提高計數率,縮減了測試時間。作為國內的XRF分析儀器制造廠商,天瑞儀器秉承精益求精的研發(fā)理念,利用現代半導體技術和計算機技術發(fā)展起來的新一代XRF測試儀EDX0B,能夠的解決ROHS環(huán)保指令涉及的有害物質的快速測定。分析檢出限可達1ppm;分析含量一般為1ppm到99.99%;任意多個可選擇的分析和識別模型;相互的基體效應校正模型;多變量非線性回歸程序;溫度適應范圍為15℃至30℃;電源:交流220V±5V,建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源;能量分辨率:160±5eV;外觀尺寸: 550×416×333mm;樣品腔尺寸:460×298×98mm;重量:45Kg。儀器標準配置包括:樣品平臺;電制冷Si-PIN探測器;檢測電子電路;高低壓電源;大功率X光管;計算機及噴墨打印機。
RoHS檢測分析(五金工具、塑料顆粒、涂料、塑膠模具、皮革布料、電線電纜、保溫杯等)
地礦與合金(銅、不銹鋼等)成分分析
金屬鍍層(鍍錫、鍍鋅、鍍鎳、鍍銅、鍍銀、鍍銠、鍍鈀等)的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定
黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測
主要用于RoHS指令相關行業(yè)、貴金屬加工和首飾加工行業(yè);銀
行,首飾銷售和檢測機構;電鍍行業(yè)
技術特點:
下照式:可滿足各種形狀樣品的測試需求
準直器和濾光片:多種準直器和濾光片的電動切換,滿足各種測試方式的應用平臺:精細的手動平臺,方便定位測試點高分辨率探測器:提高分析的準確性新一代的高壓電源和X光管:性能穩(wěn)定可靠,高達100W的功率實現更高的測試效率
環(huán)保測試儀產品介紹
隨著歐盟ROHS環(huán)保指令的深入影響和環(huán)保發(fā)展趨勢越來越嚴格,X射線熒光環(huán)保測試儀在電子電器行業(yè)得到廣泛使用。天瑞儀器是生產環(huán)保測試儀的廠商,公司的EDX0B是利用新一代X光管和高分辨率探測器,提供激發(fā)效率和測試精度。
環(huán)保測試儀技術指標:
分析檢出限可達1ppm
分析含量一般為1ppm到99.99%
任意多個可選擇的分析和識別模型
相互的基體效應校正模型
多變量非線性回歸程序
溫度適應范圍為15℃至30℃
電源:交流220V±5V,建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源
能量分辨率:160±5eV
外觀尺寸: 550×416×333mm
樣品腔尺寸:460×298×98mm
重量:45Kg
環(huán)保測試儀的工作原理
利用X射線熒光光譜儀,使用分析晶體分辨待測元素的分析譜線,根據Bragg定律,通過測定角度,即可獲得待測元素的譜線波長:
nλ=2dsinaθ (n=1,2,3…)
式中 ,λ為分析譜線波長;d為晶體的晶格間距;θ為衍射角;n為衍射級次。利用測角儀可以測得分析譜線的衍射角,利用上式可以計算相應被分析元素的波長,從而獲得待測元素的特息。
能量色散射線熒光光譜儀則采用能量探測器,通過測定由探測器收集到的電荷量,直接獲得被測元素發(fā)出的特征射線能量:
Q=kE
式中,K為入射射線的光子能量;Q為探測器產生的相應電荷量;k為不同類型能量探測器的響應參數。電荷量與入射射線能量成正比,故通過測定電荷量可得到待測元素的特息。
待測元素的特征譜線需要采用一定的激發(fā)源才能獲得。目前常規(guī)采用的激發(fā)源主要有射線光管和同位素激發(fā)源等。
為獲得樣品的定性和定量信息,除光譜儀外,還采用一定的樣品制備技術,并對獲得的強度進行相關的譜分析和數據處理。