垂直探針可以對應高密度信號觸點的待測半導體產(chǎn)品的細間距排列，針尖接觸待測半導體產(chǎn)品所需的縱向位移可以通過針體本身的彈性變形來提供。懸臂探針為探針部提供適當?shù)目v向位移，用于通過橫向懸臂接觸待測半導體產(chǎn)品，以避免探針部對待測半導體產(chǎn)品施加過大的針壓。

探針的要求

（1）質(zhì)量問題：在使用過程中應定期進行質(zhì)量檢查。探針的質(zhì)量差會導致測量誤差增大，嚴重時可能會損壞實驗設(shè)備。

（2）加工工藝問題：在探針的制作過程中，要探針的形狀、尺寸的與穩(wěn)定。

（3）使用注意事項：避免在測量過程中引入空氣，勿使用有陷進、連續(xù)的探針以免擾動測量，對于使用多個探針進行測量的情況要確保探針之間的長度和間距足夠。

（4）存儲和保養(yǎng)問題：盡可能地存儲環(huán)境無除塵、避光性好；探針表面不能有刮傷等損壞，使用前應清洗干凈且消毒處理。

通過合理的回收流程，鍍金探針廢料中的金屬可以得到提取和再利用，減少資源浪費，降低環(huán)境污染。這對于實現(xiàn)可持續(xù)發(fā)展具有重要意義。因此，應該加強對鍍金探針廢料回收的研究和推廣，提高回收率，并推動相關(guān)政策的制定和實施。