分析范圍0~50微米儀器重量90kg元素范圍從硫到鈾分析時(shí)間30S分析精度5%

產(chǎn)品應(yīng)用領(lǐng)域
測(cè)量超微小部件和結(jié)構(gòu),如:印制線路板、連接器或引線框架等;
分析超薄鍍層,如:厚度薄至2nm的Au鍍層和≤30nm的Pd鍍層;
測(cè)量電子和半導(dǎo)體行業(yè)中的功能性鍍層;
分析復(fù)雜的多鍍層系統(tǒng);
全自動(dòng)測(cè)量,如:用于質(zhì)量控制領(lǐng)域;
符合ENIG/ENEPIG要求,符合DINISO3497,ASTMB568,IPC4552和IPC4556標(biāo)準(zhǔn)。

鍍層測(cè)厚儀因?yàn)椴捎玫氖侵鳈C(jī)與探頭分離式的設(shè)計(jì)，所以在購(gòu)買(mǎi)時(shí)有兩個(gè)不同量程的探頭可以選擇。F5N3的探頭，大量程厚可以測(cè)到5mm，F(xiàn)3N3的探頭，厚可以測(cè)到3mm。
在測(cè)量以mm為單位的鍍層厚度時(shí)，大量程的鍍層測(cè)厚儀LS223就可以滿(mǎn)足您的測(cè)量需求?？蛻?hù)在選購(gòu)時(shí)可以根據(jù)測(cè)量材料的厚度來(lái)選擇相應(yīng)的探頭。鍍層測(cè)厚儀90天無(wú)理由退換貨，任何不滿(mǎn)意都可以退。

鍍層測(cè)厚儀有兩種開(kāi)機(jī)使用方法。一種是探頭在測(cè)試過(guò)程中自動(dòng)觸發(fā)開(kāi)機(jī)，并且直接顯示出測(cè)量結(jié)果。這是因?yàn)椴捎昧藬?shù)字探頭，非常的靈敏，會(huì)自動(dòng)識(shí)別出測(cè)量基材，并且快速自動(dòng)轉(zhuǎn)換。
還有一種是按鍵開(kāi)機(jī)。開(kāi)機(jī)儀器會(huì)顯示探頭型號(hào)，兩種不同量程的探頭可供客戶(hù)選擇。